アイエルテクノロジーのサーマルスクリーニングテスター(TST)は、独自のレーザー周期加熱温度応答比較技術を用いた、高速・非接触・非破壊の品質検査装置です。
半導体や電子部品の接合部では、外観が正常であっても、内部の接合状態が必ずしも良好とは限りません。また、従来の破壊試験では製品を全数検査することが困難です。TSTは、まず画像処理によって検査対象の外観良否を判定し、最適な測定位置を認識します。外観検査で良品と判定された対象にレーザーを周期的に照射し、微小な温度応答の位相や振幅を高感度赤外線検出器で測定します。
良品基準情報は、従来の外観検査、電気特性試験、接合強度試験など、検査対象に応じた既存の品質評価方法に基づいて認定された良品サンプル群の温度応答を測定し、その位相や振幅の特性、分布やばらつきなどを基準情報として登録したものです。実際の検査では、得られた測定値をこの良品基準情報と比較し、「適合・疑い・不適合」の三値判定によって、外観からは判断が難しい内部の接合状態や熱的構造の異常をスクリーニングします。接合強度を直接測定するのではなく、良品との温度応答の違いを利用することが本技術の特徴です。
従来の外観検査や抜き取り破壊試験を補完し、製造工程における高速・全数スクリーニングによって、品質保証の高度化を目指します。